服務熱線
400-617-8668
SG 5030G多功能雷擊浪涌試驗站模擬器
技術參數 | |
組合波（1.2/50us、 8/20us）模塊 | |
開路電壓 | 2～30kV±10% |
輸出電壓波 | 1.2±30%/50μs±20% |
輸出電流波 | 8/20μs±20% |
輸出阻抗 | 2Ω（±0.25Ω） |
輸出短路電流 | 1～15kA±10% |
電流波（8/20us） 模塊 | |
充電電壓 | 2～15kV |
輸出電流波 | 8/20μs±20% |
輸出阻抗 | 0.5Ω |
輸出短路電流 | 4～30 kA |
電流波（10/350us）模塊 | |
充電電壓 | 2～15kV |
輸出電流波 | 10（-10%﹢100%）/350μs±20% |
輸出阻抗 | 13Ω |
輸出短路電流 | 0.15～1.1 kA |
電流波（10/1000us）模塊 | |
充電電壓 | 2～15kV |
輸出電流波 | 10（-10%﹢100%）/1000μs±20% |
輸出阻抗 | 40Ω |
輸出短路電流 | 0.15～0.35kA |
電壓波（1.2/50us）模塊 | |
輸出電壓 | 2～30kV±10% |
輸出電壓波 | 1.2μs/50μs |
輸出阻抗 | 200Ω-500Ω |
通用參數 | |
測量顯示精度 | 優于1% |
觸發方式 | 同步或異步；自動或手動；可單次觸發 |
工作電源 | AC 110V/220V(±10%), 50/60Hz(大陸地區默認AC 220V) |
溫度范圍 | 15-35℃ |
濕度范圍 | 45%～75% |
氣壓范圍 | 86kPa - 106kPa |
耦合去耦網絡（外置） | 可選配三相或者單相耦合去耦網絡 |
機柜尺寸 | 19英寸35U（600x800x1820mm） |
SG 5030G多功能雷擊浪涌試驗站模擬器
PA1000 1 0.04% 讀數 + 0.04% 范圍 600 VRMS 20 ARMS 直流到 1 MHz 配置與報價
PA3000 1月4日 0.04% 讀數 + 0.04% 范圍 600 Vrms CAT II (2000Vpk) 30 Arms 直流到 1 MHz US $7,250
4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件 210V/100mA，0.1 fA 分辨率 對于兩端和三端設備，MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括：4200A-SCS 參數分析儀 (2) 4200-SMU 模塊 (1) 4200-PA 前置放大器 (1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備
4200A-SCS-PK2 高分辨率 IV 和 CV 套件 "210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 對于高 K 電解質，深亞微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括：
4200A-SCS 參數分析儀
(2) 4200-SMU 模塊
(1) 4200-PA 前置放大器
(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊
(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備"
4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 "210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 對于功率設備、高 K 電解質，深亞微米 CMOS 設備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：對于功率設備、高 K 電解質，深亞微米 CMOS 設備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：
4200A-SCS 參數分析儀
(2) 4200-SMU 模塊
(2) 4210-SMU
(1) 4200-PA 前置放大器
(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊
(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備"
4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 "用于使用* CMOS 技術套件進行復雜的 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 包括： (1) 4225-PMU 超快 I-V 模塊
(2) 4225-RPM 遠程前置放大器/開關模塊
自動化檢定套件 (ACS) 軟件
超快 BTI 測試項目模塊
電纜"
BSX125 1 12.5 Gb/s 128/2 - 配置與報價
BSX240 1 24 Gb/s 128/2 - 配置與報價
BSX320 1 32 Gb/s 128/2 - 配置與報價
CR125A 時鐘恢復儀器 12.5 Gb/s - 配置與報價
CR175A 時鐘恢復儀器 17.5 Gb/s - 配置與報價
CR286A 時鐘恢復儀器 28.6 Gb/s - 配置與報價
PED3201 1 通道誤碼檢測器 32 Gb/s - 配置與報價
PED4001 1 通道誤碼檢測器 40 Gb/s - 配置與報價