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Santec的Complete SS-OCT測試系統IVS-4000-ST，我們可以*根據客戶的需求來訂做，可廣泛應用于研發、可行性研究和產品開發等。該系統根據客戶的不同需求配置Santec的不同規格的掃頻光源、訂做的干涉計和探頭。硬件、軟件可以根據客戶的需求來訂做，軟件方面可以提供 LabVIEW®的程序代碼，或者SDK。

應用

• 工業非侵入式檢測 薄膜厚度（表面保護膜、涂層等）
• 瑕疵檢測（合成樹脂、塑料、半導體、涂層 等）
• 生物&醫學顯微檢測

特征

• 非接觸、非破壞、非侵入測量
• 高達30fps 實時、成像
• 1D&2D&3D的成像功能
• 檢測數據的連續保存功能
• 掃描角度可以自由設定
• OCT圖像數據、實時數據的輸入、輸出
• 根據客戶的要求定制硬件、軟件 （option）
• LabVIEW（VI文件，源代碼程序 （option）
• 多普勒&偏光OCT（option）

  IVS-1000/2000/4000 line-up

  Model No.	Center Wavelength	Features	Details
  Complete SS-OCT測試系統IVS-4000-ST	1700nm	Low Scatter	MEMS type
  IVS-2000-ST	1310nm	General and In-line Inspection	Polygon scanner type
  IVS-2000-HR	1310nm	High Resolution	Polygon scanner type
  IVS-2000-LC	1310nm	Long imaging range	MEMS type
  IVS-2000-HS	1310nm	High Speed :100kHz A-line	MEMS type
  IVS-1000-VCSEL	1060nm	Tunable VCSEL	Tunable VCSEL

  系統構成

  If you are interested in the lasers for SS-OCT